擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀
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最后更新：2013-08-12
關(guān) 注 度：2612
生產(chǎn)企業(yè)：北京華瑞森科技發(fā)展有限公司
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產(chǎn)品詳細(xì)介紹
擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀
美國(guó)CAPINTEC.INC 生產(chǎn)的CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀是一種使用異常方便、操作簡(jiǎn)單的計(jì)數(shù)儀，采用大屏幕觸摸顯示屏。具有256道分析和光子能量譜圖及同位素識(shí)別與分析功能。
CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀功能簡(jiǎn)介：
1、測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)準(zhǔn)確，使用井型NaI晶體探頭能在活度水平極其低的情況下進(jìn)行測(cè)試；
2、在不需要多種樣本變換的部門，CAPRAC-t還能當(dāng)成單井γ計(jì)數(shù)器使用；
3、CAPRAC-t可以用cpm, dpm, nCi, cps, dps或kBq來顯示結(jié)果；
4、CAPRAC-t能自動(dòng)減去本底并且能自我檢查系統(tǒng)測(cè)試項(xiàng)目；
5、CAPRAC-t外部有一個(gè)鉛防護(hù)板（1.3cm厚），并且還有一個(gè)輔助的防護(hù)板可以替換。
CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀配置：
1、井型NaI 晶體探頭；
2、6通道脈沖高度分析器。
CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀技術(shù)指標(biāo)：
1、測(cè)量周期：6、20、60、180、600、1800sec；
2、射線防護(hù)≥0.5鉛當(dāng)量；
3、計(jì)數(shù)器：16.5 1bs，7.25″（18.4cm）寬，11.5″(29.2cm)深，10.3″（26.2cm）高；
4、功率：標(biāo)準(zhǔn)：115VAC 50/60Hz 0.1A
可選：220V 50/60Hz 0.05A
5、計(jì)數(shù)率：cpm, kcpm (Ci) cps, kcps (Bq);
6、計(jì)數(shù)道：
1=15-100keV
2=100-200keV
3=200-400keV
4=400-660keV
5=660-800keV
6＞800keV
8、最大計(jì)數(shù)率：60,000cps
CAPRAC-t型擦拭測(cè)試計(jì)數(shù)儀/井型NaI咖瑪計(jì)數(shù)儀性能：
1、可打印測(cè)試報(bào)告和光子能量直方圖；
2、計(jì)算通道含有511Kev探測(cè)功能；
3、通過γ能譜鑒別同位素；
4、為不同區(qū)域（熱實(shí)驗(yàn)室、病房、等）接收和儲(chǔ)存單個(gè)的觸發(fā)水平；
5、增加的觸發(fā)水平計(jì)數(shù)用紅色墨打印。
6、6秒內(nèi)進(jìn)行擦拭測(cè)試。
7、產(chǎn)地：美國(guó) CAPINTEC.INC
北京華瑞森科技發(fā)展有限公司
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| 會(huì)員級(jí)別：免費(fèi)會(huì)員 |
| 加入時(shí)間：2011-08-04
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