光學(xué)輪廓儀，白光干涉儀，三維光學(xué)顯微鏡
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最后更新：2013-06-13
關(guān) 注 度：3379
生產(chǎn)企業(yè)：北京華躍英泰科技有限公司
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產(chǎn)品詳細介紹ContourGT系列結(jié)合先進的64-bit,多核操作和分析軟件，專利白色光源干涉測量（WLI）硬件和前所未有的操作簡易性，展現(xiàn)出歷史以來最先進的3D光學(xué)表面輪廓儀系統(tǒng)。第十代光學(xué)表面輪廓儀提供了超大視野埃米至毫米垂直范圍計量，樣品靈活安裝和領(lǐng)先可重復(fù)等性能。ContourGT系列是當今生產(chǎn)研究和質(zhì)量控制應(yīng)用中，最廣泛使用和最直觀的3D表面計量平臺。利用超過業(yè)界最大視野最高垂直分辨率，達到無與倫比的測量性能 ■ 從0.5倍到200倍的放大率能夠表示大范圍樣品表面形狀與結(jié)構(gòu)特征 ■ 任意放大率下亞埃米到毫米垂直范圍能提供無與倫比的測量靈活性 ■ 高分辨率相機選項提高橫向分辨率，增加R&R測量性能運用Vision64™軟件的64-Bit, 多核處理器可加速3D表面測量和分析 ■ 最新型結(jié)構(gòu)產(chǎn)量功能可大幅增加應(yīng)用數(shù)據(jù)處理能力 ■ 運用多核優(yōu)化和其他技術(shù)的并行處理功能，可以提供高達10倍的判斷性計量分析輸出量 ■ 無與倫比的拼接性能無間斷地將大量單獨數(shù)據(jù)綜合設(shè)置成一個連續(xù)圖像生產(chǎn)環(huán)境中提高可靠性和可重復(fù)性的獨特計量硬件 ■ 超高亮度LED專利雙源照明系統(tǒng)提供卓越的測量質(zhì)量放大率撓度 ■ 優(yōu)化硬件設(shè)計可提供震動偏差R&R測量 ■ 選擇模式中專利自動化自校準功能可獲得工具間相關(guān)性和測量準確可靠性 高度直觀用戶平臺，擁有最一流易用性，自動化和分析能力 ■ 簡易高效用戶界面簡化測量與數(shù)據(jù)采集操作，提高人機工作效率 ■ 獨特可視工作流程工具可直觀獲得過濾和分析選項擴展庫 ■ 為客戶具體要求設(shè)置客戶報告提煉分析數(shù)據(jù)功能 |
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| 加入時間：2011-09-29
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